塞貝克系數(shù)電阻率測(cè)試儀的測(cè)試流程

塞貝克系數(shù)電阻率測(cè)試儀的測(cè)試流程

塞貝克系數(shù)電阻率測(cè)試儀用于測(cè)量材料在不同溫度梯度下的熱電勢(shì)（塞貝克系數(shù)）和電阻率。塞貝克效應(yīng)是熱電效應(yīng)的核心基礎(chǔ)之一，其本質(zhì)是溫度梯度轉(zhuǎn)化為電勢(shì)差的物理現(xiàn)象。塞貝克效應(yīng)是指當(dāng)兩種不同材料的導(dǎo)體或半導(dǎo)體連接成閉合回路，并在兩個(gè)接點(diǎn)處存在溫度差時(shí)，會(huì)在回路中產(chǎn)生電動(dòng)勢(shì)（電壓）。熱電勢(shì)是由于塞貝克效應(yīng)產(chǎn)生的電壓，它直接反映了材料在溫度梯度下的電勢(shì)變化。電阻率是衡量材料對(duì)電流流動(dòng)阻力的物理量，反映了材料的導(dǎo)電性能。

一、設(shè)備主要組成
主控單元：控制溫度、電壓測(cè)量及數(shù)據(jù)采集。
測(cè)試腔體：密閉環(huán)境、內(nèi)置上下電極（上電極為冷端，下電極為熱端）。
氣體氛圍控制系統(tǒng)：真空泵。氦氣進(jìn)氣閥（用于凈化測(cè)試環(huán)境）。
軟件：通過(guò)網(wǎng)口通信，設(shè)置參數(shù)并自動(dòng)采集數(shù)據(jù)。

二、測(cè)試流程
1. 樣品準(zhǔn)備
準(zhǔn)備塊狀或柱狀樣品，進(jìn)行打磨拋光，確保良好的導(dǎo)電性。
測(cè)量樣品有效長(zhǎng)度（冷熱端探針距離，一般都是已知值）和有效橫截面積。
若溫度達(dá)到400℃以上，需在樣品與電極之間加碳紙防止粘連。
2. 開(kāi)機(jī)與初始化
開(kāi)啟設(shè)備電源，啟動(dòng)軟件系統(tǒng)。
檢查水冷機(jī)是否正常運(yùn)行，有無(wú)漏水情況。
3. 樣品放置
測(cè)試前先將樣品表面及電極接觸面打磨好，去除氧化層。
將樣品垂直放入測(cè)試夾具中，套上鎳罩遮蔽環(huán)境。
4. 環(huán)境設(shè)置
抽真空：?jiǎn)?dòng)真空泵，抽至腔體真空。
充氦氣：轉(zhuǎn)換閥門(mén)充入氦氣至正壓，重復(fù)2-3次提高純度。
5. 參數(shù)設(shè)備（軟件端操作）
設(shè)置目標(biāo)溫度。
設(shè)置溫度梯度（至少3個(gè)梯度）。
測(cè)量模式，選擇。（塞貝克系數(shù)+電阻率同步測(cè)量）
6. 啟動(dòng)測(cè)試（軟件端操作）
點(diǎn)擊開(kāi)始按鈕，設(shè)備啟動(dòng)，開(kāi)始試驗(yàn)。
軟件自動(dòng)擬合多組數(shù)據(jù)，輸出結(jié)果塞貝克系數(shù)和電阻率。

三、注意事項(xiàng)
1、安全操作：高溫測(cè)試時(shí)，需全程開(kāi)啟水冷機(jī)，避免過(guò)熱損壞。
2、充氦氣時(shí)，緩慢調(diào)節(jié)閥門(mén)，防止壓力驟變。
3、確保樣品與電極接觸良好，避免氧化或污染。
4、若電壓度數(shù)波動(dòng)大，檢查熱電偶接觸或重新打磨樣品。
5、緊急情況下立即按下急停按鈕。